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避免台积电瑕疵光阻液事件重演,宜特科技推液态材料缺陷检测

2024-12-29 205

1 月底,晶圆代工龙头台积电位于南科的 14B 厂发生了因为使用不合规定的光阻液,造成大量晶圆瑕疵而报废的事件,使得台积电因此损失了新台币数十亿元,并且进一步调降 2019 年第 1 季的财测,造成市场极大的震撼,这也让许多企业了解,针对液态材料缺陷检测的重要性。对此,国内电子检测验证大厂宜特科技就推出了液态材料缺陷检测服务,以因应目前市场上的相关需求。

宜特科技表示,由于半导体多道制程中,包括晶圆生产的黄光蚀刻、薄膜等制程中,或是其他太阳能、LED 芯片等电子产品的制造过程,都有机会因使用到不合规定的液体或挥发性材料而造成缺陷的问题。因此,宜特科技宣布推出液态材料缺陷检测服务,将有助于相关业者分析液态材质缺陷。

宜特科技指出,针对一般样品,宜特科技会使用扫描式电子显微镜 SEM (Scanning Electron Microscope) 进行样品表面形貌的检测。然而,样品必须于真空系统下作业,并且样品局限在固体。至于,对于液态或挥发性材料,由于此类样品会影响电子显微镜的真空度,并可能造成腔体污染,因此以往若要使用 SEM 的方式进行检测,具有难度。

为解决这样的难题,一般方式通常会将液态或挥发性材料烘烤后,变成固态,再将固态样品利用 SEM 进行检测。然而,往往经过烘烤后的样品形貌均可能已失真,例如液态材料内之粒子 (Particle) 分布与分散性,这些特性于材料经烘烤后均已改变,其检测结果便无法达到其真实性,因此宜特科技特别引进液态材料专用的 SEM 载台,以解决此问题。

宜特科技进一步指出,新式的 SEM 液态载台是封闭式结构,可以将液态或挥发性材料封闭其中,故可避免影响 SEM 的真空度与真空系统污染等问题。此外,SEM 电子显微镜透过载台表面厚度仅数十奈米之氮化硅 SiN 薄膜,仍可以激发出液态样品表面之二次电子或背向电子,借此可以顺利成像。

最后,若搭配 EDS 工具 (Energy Dispersive Spectroscopy) 检测,即可进行成分分析。除此之外,SEM 影像可透过专用软件进行分析,即可得到尺寸分布、分散性、形状分布等数据资料,以做为材料研发或制程改善、监控的依据。而透过这样的检测做法,将可以降低企业采用到不合格液体或挥发性材料的风险,避免企业的生产损失。

(首图来源:宜特科技提供)

2019-03-05 17:17:00

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